ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀采礦地質(zhì)化學(xué)分析-華普通用

發(fā)表日期:2022/11/17 瀏覽次數(shù):

采礦-地質(zhì)化學(xué)

ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀在采礦和地質(zhì)化學(xué)領(lǐng)域,斯派克的先進(jìn)分析儀獨(dú)領(lǐng)風(fēng)騷

元素分析是勘探和采礦過程中最重要的調(diào)查手段之一。X射線熒光(ED-XRF)光譜儀為巖石、勘探樣本、礦物、礦石、富集礦和尾礦的分析提供了方便快捷的方法,通常需要遠(yuǎn)少于其他技術(shù)的樣本制備工作。
針對樣品量大、要求分析時間短、尤其是輕元素檢出限低,ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀提供了所需性能。兩種技術(shù)均可輕松實(shí)現(xiàn)自動化,不到兩分鐘即可完成樣本分析,達(dá)到亞ppm(百萬分之一)和ppb(十億分之一)范圍的檢出限。
ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀

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